Kochergin V.
Ключевые слова: patents, measurement technique, optical imaging, magnetic field distribution, critical current distribution, critical caracteristics, magnetic properties
United States Patent, 2005, v., N , p.0
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.